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ED-400涡流测厚仪ED400
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ED-400涡流测厚仪ED400

ED-400涡流测厚仪ED400
ED-400涡流测厚仪ED400

 ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。

      仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

ED400型涡流测厚仪与ED300型相比,具有如下特点:

﹡ 量程宽   ED400型涡流测厚仪量程达到0~500μm。

﹡ 精度高   测量精度达到2%。
﹡ 分辨率高   分辨率达到0.1μm。
﹡ 校正简便   只校正“0”和“50μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
﹡ 基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2μm。
﹡ 可靠性提高   采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
﹡ 稳定性提高   采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
﹡ 探头芯寿命长   采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。

技术参数

测量范围:     0~500μm
测量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:      0~50μm:0.1μm;
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可选)
使用温度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     280g

标准配置

主机            
探头            
基体(6063铝合金)
校正箔片   一套4片(附检测报告)
仪器箱

可选附件

备用探头
基体
校正箔片(附检测报告)


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