概 述：

　　本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。

适用范围：

　　HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

主要功能：

可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；
三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准；
显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm）
 1μm （测量范围大于100μm）
 有两种工作方式：直接方式和成组方式
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图

测量范围：

（1）F400探头、N400探头：0—400μm
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm
（3）F10探头：0—10000μm
（4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头）

测量精度：

不同探头精度要求不同
（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）
（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10）

使用温度：

0～40℃

外型尺寸：

150×80×30m

重 量：

250g

功能

HS2100F

HS2100N

HS3100

HS4100

测量原理

磁性

涡流

磁性/涡流

磁性/涡流

测量范围

标准配置探头（F1/N1)：1～1250μm

测量精度

±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）

统计量

平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV)

存贮和统计

15个测量值

测量精度

±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准）

零点校准

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二点校准

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删除功能

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自动关机

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蜂鸣声提示

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测量方式

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欠压指示

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错误提示

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标准配置