37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪特点：

Panametrics-NDT™ 37DL PLUS是美国泛美公司一款先进的超声测厚仪，它替代了36DL PLUS超声波测厚仪,它结合了强大的测量能力和先进的数据采集和输出能力，适用于测量有内部腐蚀或锈蚀的管材、箱体和其它金属构件。37DL PLUS具有许多创新特性，即便在外表有涂层或镀层的情况下，亦可轻易完成金属实际厚度的测厚。新增透过涂层技术，利用一次背反射回波，测量和显示金属基底厚度和涂层厚度。新增氧化皮/沉积物测量功能（选择项），测量和显示锅炉管道内壁钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度，从而有助于管道寿命的预测。精确的高温厚度测量可以利用新增温度补偿功能，随温度变化调节材料的声速。新增平均值/最小值模式，保存几个相继测量值的平均值或最小值。

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪性能指标：

• 新增透过涂层技术，利用一次背反射回波，测量和显示涂层厚度和金属基底厚度。

• 新增温度补偿功能，补偿了材料随温度变化而引起的声速变化。

• 新增氧化皮/沉积物测量功能（选择项），测量和显示钢基底厚度和氧化皮沉积物的厚度。

• 新增平均值/最小值模式，保存几个相继测量值的平均值或最小值。

• 新的A扫描显示，更好的对比度和可见性，显示更加清晰。

• 新增的使用不同排列方式的单晶片和双晶片接触式、延迟式或水浸式探头。

• 使用EMAT探头，透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。

• 基于文件的字母数字的存储器，可以使用更长的文件名 (最多32字符) 和ID号 (最多20字符) 。

• 改善：存储在B扫描中的每个厚度读数可以在WIN37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。

• 改善： 选择查看栅格结点标记 (最小/最大，报警方式或A扫描) 。

• 网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。

先进的超音腐蚀测量仪

改善

给电子学领域，新型37DL PLUS为很多标准测量方式带来创新。新的A扫描显示，更好的对比度和可见性，使显示更加清晰。存储在B扫描中的每个厚度读数可以在WIN37DL PLUS界面程序和测量仪上浏览。用户可选择查看栅格结点标记 (最小/最大，报警式或A扫描) 。基于文件的字母数字的存储器，可以使用更长的文件名 (最多32字符) 和ID号 (最多20字符) 。网格文件可以通过增加行、列或改变增量方向进行扩展。

新型探头

37DL PLUS可以使用不同排列方式的双晶片和单晶片探头。探头自动识别功能，可对按线型排列的每个D790系列双晶片探头进行识别，从而得到最佳测量结果。37DL PLUS还可使用电磁超声探头E110-SB EMAT，透过氧化皮对钢表面无耦合剂的厚度测量。M2017和M2091探头最适合于对锅炉管道内壁氧化沉积物的测量。37DL PLUS 与Panametrics-NDT的频率范围从2到30兆赫的Microscan探头系列兼容，包括：单晶片接触式、延迟线式和水浸式探头。此外，该测量仪亦可用于非腐蚀材料诸如塑料、玻璃纤维、复合材料、橡胶、铸件、橡胶和玻璃的测量应用。应用自动调用功能，可从其存储器中自动调用16个缺省的和 10个Microscan探头设置。

透过涂层技术

这个创新技术，利用单一的背反射回波测量金属的实际厚度。37DL PLUS可以显示金属和涂层厚度，其中每一种都相应调整材料声速。 可将测厚仪设置为仅显示金属的实际厚度。测量无需去除表面的油漆或涂层。 透过涂层测量使用新型D7906-SM和D7908双晶片探头。

37DL PLUS用单一的背反射回波，自动计算和显示涂层厚度 (0.019英寸) 和金属厚度 (0.284英寸) 。

温度补偿

材料温度的变化，引起声波在其中传播速度的变化，进而影响测量的精度。温度补偿功能允许用户输入校准块的温度值，并且手动或自动输入测量点当前(高)温度。37DL PLUS将显示在校正温度下的厚度值，并将其存入内置数据存储器。

校准温度与材料本身温度差值为932°F， 0.376英寸的厚度读数，将可补偿材料声速的变化。

DB栅格视图

改善的栅格视图特点允许用户对应每个栅格点选择查看最小/最大值、报警或者A扫描的标记。 这允许用户通过文件迅速扫描和找出最小/最大值、报警或者A扫描的位置。

标记清晰地表明(H)高值报警和(L) 低值报警的厚度测量值。

氧化皮/沉积物测量（选择项）

这一新增可选项，使用先进的算法测量锅炉管道内壁氧化皮或沉积物的厚度。测量仪同时显示锅炉管道的金属基底厚度和氧化皮的厚度，从而有助于管道寿命的预测。此项应用，我们推荐使用M2017或M2091探头。

37DL PLUS 腐蚀厚度仪/超声波测厚仪技术参数：

双晶片测量方式：从激励脉冲到第一个回波之间的精确延时

透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。

透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。

单晶片测量模式：

模式1：测量激励脉冲和第一个背反射回波之间的时间间隔。

模式2：测量在激励脉冲之后的第一个界面回波与第一个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。

模式3：测量在激励脉冲之后，位于第一个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水

浸式探头

氧化皮/沉积物测量功能（选择项）：测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。

氧化皮沉积物的厚度范围：

M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米)

M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米)