UTX750 X荧光光谱仪性能特点 产品简介: |
· 完美的检测性能指标
·多种准直器和滤光机制可供选择
·简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单
·人性化软件界面设计,易学易懂,更方便人员操作
·探测器采用先进的电制冷方式,无需液氮制冷,增加安全性
元素含量 |
分析范围:1PPM-99.99% 准确度:相对误差5%以内 |
测试软件 |
基本参数法 |
X光管 |
50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 |
对焦系统 |
镭射对焦 |
探测器 |
硅锂半导体探测器 |
测量方向 |
从上向下 |
滤光器 |
一次滤光 |
样品台 |
简易手动样品台,Z轴升降调节,操作简单 |
准直器 |
Ф |
可测元素 |
k到U |
定性功能 |
自动标示存在元素 |
定量功能 |
出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样 |
样品观察 |
CCD高精度彩色摄像头 |
测试时间 |
60-300秒 |
软件 |
RoHS软件,镀层测厚软件 |
配套 |
标准液体测量杯 |
稳压系统 |
UPS稳压电源 |
数据处理 |
MS-Word |
电脑 |
联想电脑 |
重量 |
80千克 |
累计评价
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